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[期刊论文] 作者：荆龙康,蒋玉蓉,倪婷,,
来源：光学技术 年份：2012
准确的测量薄膜的厚度和光学常数,在薄膜的制备、研究和应用中都是十分重要的。借助Cauchy色散模型,通过薄膜透过率测量曲线,用改进的自适应模拟退火遗传算法对透过率曲线进...
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