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[期刊论文] 作者：魏广富,
来源：半导体技术 年份：1986
本文所介绍的小角度测量装置能够测量0.25～1.4°的角度,误差3%.虽然该装置是用于扩展电阻测量中的抛光硅片,但它也用于测量任何具有反射能力表面上的小角度.The small-angle...
[期刊论文] 作者：魏广富,姚建勋,
来源：农村金融研究 年份：1995
适应市场经济需要构建银企新型关系魏广富，姚建勋银行信贷业务活动是由信贷主体与客体双方构成的，在专业银行向国有商业银行转变的过程中，随着业务性质由供给向经营的根本转变，银......
[期刊论文] 作者：王向武,陆春一,赵仲镛,孙景山,魏广富,
来源：固体电子学研究与进展 年份：1993
报导了3 mm波段硅双漂移崩越二极管所需PN/N~+多层、亚微米外延材料的常规CVD生长技术,研究了实现这些高要求的多层结构的方法,得到了最佳的外延工艺条件。The conventiona...
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