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[期刊论文] 作者：黄岳春,
来源：电子质量 年份：1994
一、概述一切半导体器件都可能受到高压的静电损害.GaAs、MOS等器件对静电放电损害尤为敏感,被称为静电敏感器件(ElectrostaticSensitive DevicesESD).随着ESD的大量生产和广...
[期刊论文] 作者：黄岳春,
来源：电子质量 年份：1994
GR1732数字电路测试系统是我国八十年代引进数量最大的数字电路测试系统.目前,电子部五所、航天部511所、878厂、北器三厂等单位都是依靠该仪器检测数字电路.GR1732的优点是...
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