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[期刊论文] 作者:E、G、Spencer,张慕义,,
来源:半导体情报 年份:1975
采用离子腐蚀在硅片上制作5~10微米厚、约1厘米直径的薄窗口。这个方法允许所用离子源的变化范围很宽,并在直径为1厘米的面积上提供每小时20微米的腐蚀速度。窗口的表面是平坦...
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