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[期刊论文] 作者：李静,吴孙桃,叶建辉,S.F.YLi,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2003
运用偏振衰减全反射傅立叶变换红外光谱技术(ATR-FTIR),研究了Si(111)在不同比例的NH4F-HCl溶液中腐蚀后的表面形态.通过分析表面振动模型的偏振波长及红外粗糙因子,表明在较...
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