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[期刊论文] 作者：U.Mirsky,唐家钿,
来源：红外技术 年份：2004
用x—射线形貌法和透射电子显微术(以下简称TEM)研究了MCT晶体的缺陷结构。采用这两种技术揭示和鉴别了亚晶粒间界,计算出其倾斜角为10~(-3)弧度。由TEMThe defect struct...
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