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单粒子闩锁效应(SEL)相关论文
CMOS集成电路的抗辐射分析及设计
本文利用标准的商业CMOS工艺,设计了一个1万门的抗辐射加固的CMOS门阵列,用以评估商业工艺线制造的电路的抗辐射水平。在研究中,我们......
学位
CMOS集成电路
抗辐射加固
单粒子翻转效应(SEU)
单粒子闩锁效应(SEL)
电离总剂量效应(TID)
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