单粒子翻转效应（SEU）相关硕士博士期刊学术论文

本文利用标准的商业CMOS工艺，设计了一个1万门的抗辐射加固的CMOS门阵列，用以评估商业工艺线制造的电路的抗辐射水平。在研究中，我们......