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65 nm的互连线工艺灵敏度分析
集成工艺尺寸的不断缩小使得工艺偏离效应(process variation)成为实现集成电路高成品率设计的关键。本文通过互连线工艺灵敏度分析......
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工艺偏离
互连线
灵敏度
TCAD
统计试验设计
process variation interconnect sensitivity TCAD statist
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