在不同条件下退火的Ｎｉ＾＋注入ｎ－Ｇａｐ ＤＬＴＳ谱中观测到表观激活能在０．６０￣０．７０ｅＶ范围内的多个多子峰和少子峰。对各样品掺杂层内的能带弯曲及Ｎｉ杂质各荷电状态浓度......