芯核联合测试相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

芯核联合测试相关论文

系统芯片测试应用时间最小化技术研究

超大规模集成(VLSI)电路产品的开发流程主要包括设计、制造、测试和封装四个步骤。测试是芯片产品规模化生产的重要环节,其目标是......

学位

系统芯片芯核测试应用时间测试盒扫描链最佳交换递减模式游程 x-传播芯核联合测试

看过本文同时还关注