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门阴极相关论文
基于圆周法的IGCT芯片门/阴极性能缺陷检测方法与实现
功率半导体器件IGCT芯片的门/阴极之间设计的呈多圈环状平面布局的等效二极管单元数量庞大,为准确快速检测每个单元的特性并筛查出......
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功率半导体
IGCT
门/阴极
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