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CV测量相关论文

GaAs／Si／AlAs异质结不同生长温度Si夹层分布的CV实验研究

用MBE生长设备制备了GaAs/Si/AlAs异质结,通过CV法研究了异质结的带阶和GaAs层在不同温度下生长对0.5分子层 Si夹层的影响,得到Si......

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GaAs/Si/AlAs异质结生长温度 Si夹层 CV测量实验研究导带带阶异质结器件热扩散半导体空间分布 GaAs/AlAs heterojunc

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