介绍了一种针对砷化镓集成电路（GaAs IC）金属化缺陷的失效定位方法。首先分析了GaAs IC不同金属化结构（如金属化互连、MIM结构、肖特......

该文设计了一套集成电路故障检测和分析系统:利用我们自行研制的电光采样测量系统获取了电路各节点的电压波形,提取了器件的模型参......

介绍了ＧａＡｓ高速集成电路在片瞬态参数测试的技术原理和系统组成。利用该系统对部分ＧａＡｓ高速电路进行的测试结果表明，该系统行之有效。......

1990年IEEE GaAs IC讨论会于10月7日至10日在美国New Orleans市希拉顿饭店举行.会议共进行了三项议题,10月7日举行了题为“高级GaA......