IDDT相关论文
以CMOS电路动态电流(IDDT)为研究对象，提出了一种针对 IDDT测试信号数据的预处理方法。该方法从统计角度出发，通过计算故障电路IDDT......
针对数字电路测试矢量生成复杂、数量庞大的问题，研究了采用遗传算法进行优化选择的数字电路动态电流测试矢量生成方法。利用遗传算......
集成电路的故障诊断分为故障检测和故障定位。以往的检测，只是施加测试以判断被测电路是否存在故障，但不能对故障进行定位、确定故障......
集成电路的动态电流IDDT波形中包含有丰富的电路工作状态的信息,提取其中的特征信息进行电路故障诊断是电压逻辑功能检测和静态电......
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试（BIST）作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于......
随着集成电路技术的飞速发展，人们对集成电路产品的可靠性要求越来越高，这就要求集成电路测试特别是故障诊断提出了更高的要求。基于......
数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间由于缺陷电阻的存在而引起的故障。开路故障不会立即引起电路的功能性故......
集成电路设计与测试是当今计算机技术研究的主要问题之一。ＣＭＯＳ电路的静态电流（ＩＤＤＱ）测试方法自８０年代提出以来，已被工业界采用，作为高可靠芯片的......
串音效果导致的延期差错是在数字电路的差错诊断的困难的问题之一。聪明的差错诊断基于 IDDT 测试和支持向量机器(SVM ) ，分类器在......
以CMOS电路动态电流（IDDT）为研究对象,提出了一种针对IDDT测试信号数据的预处理方法。该方法从统计角度出发,通过计算故障电路IDDT的......
近年来利用动态电流（IDDT ）测试研究 CMOS 电路故障的方法得到广泛关注。论文结合小波变换和概率神经网络方法，提出一种基于小波分析......
传统的电路故障检测方法不能精准地检测电路故障,因此提出了基于IDDT的传感器集成电路故障智能检测研究,设计了一种新的测试模式.......
集成电路的故障诊断是集成电路生产中的一个重要问题。传统的故障电压诊断方法对于目前的生成工艺下的故障类型并不能有效的实现故......
