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IP核测试复用相关论文

面向IP核测试复用的测试环设计

提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决......

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IP核测试复用设计改进测试环单元三态测试环系统芯片半导体制造技术 Microprocessor chips Semiconductor devices

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