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NIM-IC相关论文

NIM-IC型半导体硅单晶电阻率标准样片与NBS的SRM型标准样片的比较实验

通过对中国计量科学研究院(NIM)与美国国家标准局(NBS)研制的硅单晶电阻率标准样片的比较实验研究,获得了标志着标准样片主要性能......

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中国计量科学研究院主要技术指标 NIM-IC 径向电阻率分布曲线径向扫描硅单晶 NBS 比较实验 SRM

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