利用Raman显微镜系统对两块用MOCVD方法在Cd0 96Zn0 0 4 Te衬底上生长的Hg0 8Cd0 2 Te外延薄膜样品在光谱范围 5 0～ 5 0 0 0cm-......

该论文应用英国RENISHAW公司生产的System2000Raman显微镜分析系统、日本MAC SCIENCE公司生产的18KWHFX射线衍射系统、我们研制的......

利用Raman显微镜系统对两块用MOCVD方法在Cd0.96Zn0.04Te衬底上生长的Hg0.8Cd0 2Te外延薄膜样品在光谱范围50～5000cm-1进行了测量,......

利用Raman显微镜系统对两块用MOCVD方法在Cd0.96Zn0.04Te衬底上生长的Hg0.8Cd0.2Te外延薄膜样品在光谱范围50－5000cm^-1进行了测量，......