随着超大规模集成电路技术发展到深亚微米阶段,PN结结深和特征尺寸不断地减小,使得静电放电（Electro-Static Discharge,ESD）事件更加......

静电放电现象广泛存在于半导体芯片生产,运输和使用的各个环节。ESD事件发生时会产生极大的能量消耗,往往会对芯片的功能产生破坏......