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光源自动调节相关论文

基于序贯相似性与光源自动调节的芯片表面缺陷检测算法

为了解决当前缺陷检查算法在保护罩反光环境下易导致采集芯片连接器图像光照不均,使其缺陷检测精度较低,无法精确定位出浅插与破损......

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缺陷检测图像处理光源自动调节序贯相似性检测线检测 defect detection image processing light source au

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