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利用蒙特卡罗模拟计算和实验测量相结合的方法，对晶体死层厚度及冷指尺寸进行了修正。结果表明，当探测器的死层厚度为0．22 cm，冷指半径......
本文采用MCNP模拟和实验相结合的方法确定高纯锗探测器的死层厚度及冷指尺寸，建立MCNP探测效率刻度模型。该模型对点源的刻度误差在......
论文由四部分组成,分别为引言、原理、蒙特卡罗方法以及MCNP程序的介绍、数学建模和数据分析。引言部分介绍了高纯锗探测器探测效......
利用同轴型高纯锗(HPGe)探测器测量152Eu和133Ba在15cm处的探测效率,调节探测器死层厚度和冷指尺寸,利用Monte Carlo方法对同轴型H......
