初级荧光相关硕士博士期刊学术论文

针对多层薄膜材料，用ＸＲＦ基本参数（ＦＰ）法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外，还考虑试样中其它元素初......