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半导体器件可靠性相关论文
界面态对HEMT器件的影响
本文通过对相同界面态对三种纵向结构的HEMT器件可靠性的影响和不同界面态对同一器件直流跨导影响的仿真,比较常规型(HEMT)、赝型(......
会议
半导体器件可靠性
直流跨导
界面态密度
基于机器学习的IGBT多参数性能退化预测方法研究
随着现代科技水平的提高,半导体器件性能不断提升,因此被广泛应用于工业、能源、通信等领域。由于环境应力的长期作用,半导体器件......
学位
半导体器件可靠性
IGBT
性能退化预测
寿命预测
多特征参数
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