同步切换噪声相关论文
本文从高速通信系统的PCB板级电源完整性分析入手:介绍了电源完整性的相关定义,分析了产生电源完整性问题的原因以及电源完整性......
深亚微米工艺下,高密度器件的高频同步切换噪声可严重影响超大规模集成电路(very large scale integrated circuit,VLSI)的可靠性......
在超深亚微米(VDSM)工艺下,器件频繁的同步切换可在电源/地分配网络上形成大开关电流,影响VLSI的可靠性和信号完整性.文中提出一种......
半导体工艺水平的飞速提高使当今集成电路的发展进入超深亚微米(VDSM)阶段。随着系统芯片(SOC)的出现,片内互连线问题已经成为目前U......
电源完整性(Power Integrity,简称PI)是当今高速电路设计中的关键性问题,是信号完整性(Signal Integrity)问题研究的延伸和深入,其......