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本文报道了应用环境扫描电镜(ESEM)和同步辐射X射线白光形貌术对采用提拉法生长出的Nd:YVO4晶体进行的形貌及生长缺陷的分析,获得......
钽酸锂晶体 (LiTaO3)是一种典型的非化学计量比晶体,通常使用的同成分 LiTaO3的 n(Li)∶ n(Ta)约为 48.6∶ 51.3.从同成分熔体中提......
利用同步辐射白光形貌术和透射电子显微镜,对BiB3O6晶体的缺陷进行研究.靠近籽晶部位,可以观察到包藏、位错和生长扇面边界,而远离......
应用同步辐射X射线形貌术对坩埚下降法生长的Nd:SGG晶体的缺陷进行了研究.观察到该晶体中存在较为明显的镶嵌结构晶界缺陷和位错缺......
【目的】SiC 材料结构缺陷的检测和控制是实现材料应用的关键环节,因此本文对6H-SiC 单晶中的结构缺陷进行研究.【方法】采用同步......
采用原子力显微镜观测全方位生长的DKDP晶体的{100}面形貌,发现有螺旋位错,由此推断DKDP晶体{100}面以螺旋位错机制生长;利用同步......