四甲基硅相关论文
利用平行板电极装置测定了四甲基硅于某些波长点处的激光光强指数,讨论了多光子电离(mPI)谱中某些话线的归属。通过对飞行时间(TOF......
在390.60nm的紫外激光作用下,利用超声分子束技术与飞行时间(TOF)质谱仪相结合的方法研究了气相四甲基硅分子多光子电离(MPI)的TOF......
在 35 5nm的激光作用下 ,利用扩散分子束技术和四极质谱装置相结合研究了气相Si(CH3 ) 4分子多光子电离 (MPI)质谱分布。测量了Si(......
采用超声分子束技术,以飞行时间(TOF)质谱仪,于410～371nm内,在不同能量的激光作用下,着重检测了气相Si(CH3)4分子在15个波长点处的......
