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宽边测试相关论文
基于部分扫描的跳变时延故障测试及ATPG方法的研究
当前在工业上对集成电路的故障测试主要还集中于呆滞型故障的检测,而随着半导体技术的高速发展,使得芯片的运行速率不断上升,工艺的特......
学位
部分扫描
跳变时延故障测试
增强扫描触发器
宽边测试
自动向量生成
集成电路
ATPG
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