局域电子密度相关论文
利用正电子湮没实验,结合x射线衍射(XRD)结构分析,研究了具有混合稀土特征的(Y1-xGdx)Ba2Cu3O7-δ系列样品.XRD实验结果表明,半径......
利用X射线衍射(XRO)、正电子湮没等实验技术对Fe掺杂稀土超导体系GdBa2Cu3-xFexO7-δ(x=0.00-0.30)的晶体结构、局域电子密度n。以及超导......
用正电子寿命谱研究了La1.6-xNd0.4SrxCuO4(X=0.12,0.15,0.20)和La1.88Sr0.12CuO4,结果表明随着Sr掺杂量的增加,空穴载流子增加,而正电子寿命......
利用正电子湮没实验,结合理论模拟计算研究了金属间化合物MgB2系列样品。结果表明,在不同压强下,样品的电子结构发生了变化,Mg原子层电......
应用正电子湮没技术,对掺杂Y2O3的ZnO导电陶瓷烧结过程进行了研究,给出了烧结温度对导电特性、局域电子密度、结构缺陷的影响特征.......
为探究稀土离子Gd^3+的Y位掺杂对YBa2Cu3O7-δ(YBCO)体系晶体结构和局域电子结构的影响,利用正电子湮没和X-射线衍射(XRD)实验对Y1-xGdxB......