晶体分析器相关论文
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晶片专用X射线荧光分析装置在半导体工业中被用于多种工程的评价。在半导体分析中XRF法的显著特征是能分析各种薄膜（氧化膜、硅化物......
为了诊断等离子体X射线,利用X射线布拉格衍射原理研制了球面弯晶谱仪。实验采用α-石英作为其晶体分析器色散元件,晶体弯曲半径为2......
为了诊断Z箍缩等离子体X射线相关信息，利用自聚焦和均匀色散原理，研制了一种新型的均匀色散弯晶谱仪。晶体分析器采用α-石英（1010），布......
在惯性约束聚变（ICF）中,激光等离子体产生的X射线包含了丰富的信息。为了获取这些有用的信息用于诊断电子的温度和密度,本文基于椭圆......
