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电迁移危害相关论文
非对称结构Cu/Sn-58Bi/Cu焊点中电迁移致组织演变及损伤
采用原位SEM观察、FIB微区分析和有限元(FE)模拟研究了非对称结构Cu/Sn-58Bi/Cu微焊点中电迁移引起的组织演变及其损伤.结果表明,非......
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微区电阻
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