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根据异物晕不良形成原因及修复方法,分析了成盒盒厚及压头直径对不良修复成功率的影响因素。当面板盒厚大小不同时,在相同压力值下......
针对TN 3~(rd)min低温响应时间慢的问题,从响应时间影响因素出发,先从传统的降低盒厚改善响应时间的方向,但改善效果不明显;改从增......
提出了一种新的测量扭曲向列相液晶盒盒厚和扭曲角的Stokes矢量法。根据Jones矩阵推导出了Stokes矢量与液晶盒参数的关系,其原理是......
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L0周边Mura是TFT-LCD的一种常见缺陷。本文对L0周边Mura发生原因进行分析,发现真空对盒工艺进行过程中玻璃基板表面受力不均使力学......