稳态卡计法相关论文
La1-xSrMnO3空间热控薄膜的主要性能为其在不同温度下的发射率变化情况，为了表征制备的La1-xSrxMnO3薄膜的变温发射率性能，采用......
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热控材料的半球发射率是一种重要的热物性参数，通常测量方法包括热学(卡计法)和光学法，而热学法中又包括瞬态和稳态两种方法。本文分......
利用非稳态卡计法精确地测定高度抛光的纯金属钨及镍在350～1000°K内的半球向全热发射率。提出了一个修正公式，它不仅能消除非辐射热......
通过合理设计,组装了一台稳态卡计法热辐射测量仪.它可以测量材料在173~373 K温度范围内的半球热辐射率.本文对该装置进行了详细介......
综述了半球向全发射率测量技术研究现状,介绍了基于稳态卡计法的半球向全发射率测量原理,根据对试样加热方式的不同对测量装置进行......
由于具有很高的发射率，且在中、高温度下晶型稳定，八面体空隙被Fe、Co、Ni占据的矿物如FeFe2O4、CoFe2O4、NiFe2O4等反式尖晶石被广......
利用稳态卡计法设计了一种测试材料半球发射率的试验装置，并对其进行了不确定度分析。使用该装置对二次表面镜（OSR）的室温半球发射率......
