采用粉末样品直接压片法,通过基体校正等手段,建立了新型铁合金硅铝铁X射线荧光分析方法.方法快速、准确、成本低.......

专利申请号：CN200980157548．4公开号：CN102333606A申请日：2009．05．14公开日：2012．01．25申请人：美国克莱麦克斯工程材料有限公司......

通过SEM、XRD手段对（Si-C-Ti）粉末压块的高温自蔓延反应进行了研究,获得了SiC颗粒。设计压块为内外两层,外层是Ti粉和石墨粉（C）,摩尔比......

采用粉末样品直接压片法，通过基体校正等手段，建立了新型铁合金硅铝铁Ｘ射线荧光分析方法。方法快速、准确、成本低。......

采用粉末样品直接压片法，通过基体校正等手段，建立了优质镁砂X射线荧光分析方法。该方法快速、准确、成本低。......

采用粉末直接压片法,通过基体校正等手段,建立了氟石X射线荧光分析方法,该方法快速、准确、成本低.......

采用粉末样品直接压片法,通过基体校正等手续,建立了新型铁合金硅铝铁射线荧光分析方法。方法快速、准确、成本低。 Direct powde......