薄层评价相关论文
20世纪90年代,斯仑贝谢、贝克阿特拉斯、哈里伯顿等国外三大公司分别推出了以微电阻率扫描成像测井仪为代表的成像测井系统。微电阻......
提出了一种提高常规测井曲线垂向分辨率的薄层评价技术--沃尔什函数法。由于薄互层地层具有层状分布特点,地层参数常用阶梯函数表示,用......
薄层评价要求测量电阻率的仪器具有足够的垂向分辨率和足够的径向探测深度.常规仪器中这二者常是相互制约的.新研制的5700测井系列......
本文简单介绍了新型组合式核磁共振测井仪器CMR-Plus。该仪器具有测量速度快,仪器短小、稳定、轻巧等特点。采用“增强精度模式”的......
当层厚小于测井仪器的纵向分辨率时,测井曲线受围岩影响发生失真,不能真实反映薄层的特征.在薄层评价中,对双感应曲线进行高分辨率......
新研制的5700测井系列中的薄层电阻率TBRt(Thin Bed Resistivity)测井不仅有足够的垂向分辨率(5cm),而且有足够的径向探测深度(33~35cm),它......
薄层由于受围岩影响较大,常规测井曲线难以有效的反映薄层的真实测井响应,进而无法有效评价储层特性和解释储层参数。随着测井新技......