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表面有机微污染物相关论文
XPS和TOF—SIMS在硬盘驱动器(HDD)磁头表面微污染分析中的应用
XPS和TOF-SIMS表面分析仪器联用分析磁头臂焊接位表面有机微污染物成分,找出污染物的来源;XPS能够提供污染物中元素组成及价态信息,而......
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