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谷值电流密度相关论文
SPACER层中的δ掺杂对RTD性能的影响
在这篇文章中,我们提出了在传统双势垒结构的SPACER层中增加一层δ掺杂的RTD结构,并成功生长出了峰谷比为2.8谷值电流密度为11.8kA......
会议
δ掺杂
整体性能
谷值电流密度
峰谷比
双势垒结构
集成器件
掺杂浓度
电子激发
应用
基础
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