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超薄叠层栅介质相关论文
具有超薄Si<,3>N<,4>/SiO<,2>叠层栅介质的W/TiN金属栅CMOS器件及其关键工艺研究
当多晶硅栅MOSFET's的栅长降低到亚100nm,栅氧厚度降低到2nm以下后,过大的栅隧穿漏电、日益严重的B穿透现象以及多晶硅栅耗尽效应将......
学位
金属栅CMOS器件
超薄叠层栅介质
栅隧穿漏电
穿透现象
难熔金属栅
微电子学
固体电子学
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