软差错相关论文
针对软差错影响下的电路可靠性问题，选取了TP算法、EPP方法和PTM方法3种门级电路可靠性评估方法，分别介绍其原理，并结合实验指出了它......
摘要：软差错被认为是现代微处理器可靠性所面临的最主要的挑战，由于软件实现的软差错检测和恢复技术不需要额外的物理资源并能适用于......
随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。为了有效评估软差错对电路的影响......
