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迭代逻辑阵列相关论文
同步时序电路中组合冗余故障识别技术
对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。基于无故......
期刊
不可测故障
组合冗余
迭代逻辑阵列
自动测试模式生成
Undetectable faults Combinational redundancy ILA ATPG
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