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采用射频磁控溅射法在石英基片上制备了厚度约为200nm的ZrW2O8薄膜。在不同温度下对薄膜进行热处理,通过X射线衍射和扫描电镜研究......
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基于不对称布拉格反射理论,以平行光掠入射方式配合普通X射线粉末衍射仪的高温样品台,研究了玻璃基钨酸锆薄膜样品的高温衍射测试......