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铝键合点相关论文

用TOF-SIMS研究半导体芯片铝键合点上的有机沾污

铝键合点的表面沾污增强了对铝合金化表面的腐蚀，并导致微芯片的失效．过去大量的工作多集中在由等离子工艺引起的含氟的无机沾污；很少......

期刊

铝键合点正离子半导体芯片 TOF-SIMS

半导体芯片上铝键合点被氟沾污后对可靠性的影响

本文报导根据美国军用标准MIL-STD-883D第1005条规定对半导体器件进行加载寿命实验后金属丝键合点的失效情况。失效的金属丝键合点......

期刊

半导体芯片寿命实验金属丝金属化层铝键合点

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