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全反射Ｘ荧光（ＴＸＲＦ）分析技术是一种快速多元素同时分析方法。由于其分析灵敏度高（ｐｇ级）、分析速度快、用样量少（μｇ，或μ１级）、可多元素同时分析（２０多个......

该文介绍了应用自制全反射Ｘ荧光分析仪，测定了镍基溶液中痕量杂质元素Ｆｅ、Ｃｏ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｐｂ，其中元素最小含量在１０〈’－１〉μｇ／ｍｌ量级。配制的标准样品中Ｐｂ的......

本文介绍了应用自制全反射Ｘ荧光分析仪，测定了镍基溶液中痕量杂质元素Ｆｅ，Ｃｏ，Ｃｕ，Ｚｎ，Ｐｂ，其中元素最小含量为１０＾－１μｇ／ｍｌ量级。配制的标准样品中Ｐｂ的含量最低，０．０５０μｇ／ｍｌ，分析......

本文探讨镍基体对待测元素铁、钴、铅、锌干扰情况,采用标准加入校正法消除基体干扰影响,拟定试验条件,建立连续光源原子吸收光谱......