飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)相关论文
在对二次离子质谱的谱图的进行研究的基础上，提出了利用计算机进行二次离子质谱分析的数据处理方法，并已实现了其中的大部分内容．利用......
随着仪器性能的不断提高,飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）在材料表面化学分析中起着越来越重要的作用。TOF-SIMS的主要测试功能包括......
为了全面了解北京市煤改气后冬季大气细颗粒PM2.5中无机水溶性离子及其来源,于2017年冬季供暖期间在北京市海淀区连续采集了41个PM......
采用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）分析6种磺隆类除草剂,获得了它们的正离子和负离子谱图。数据显示,这类除草剂在TOF-SIMS谱图中......
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）成为材料表面化学分析越来越重要的手段,随着分析仪器性能的不断提高,尤其是团簇离子源的发明和使用......
飞行时间二次离子质谱仪(Time of fly-secondary ion mass spectrometry,简称TOF-SIMS)利用高能一次离子束轰击物质表面产生二次离......
本研究为飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)设计了一种具有高空间分辨率的样品光学成像系统。该系统由一种改进的Schwarzschild双......
介绍了二次离子质谱（SIMS）的结构、基本原理、分析特点，特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域，如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添......
在北京空气重污染期间,以石英膜采集的PM2.5为样本,采用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合质量高分辨模式与正负离子成像模式表......
