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电子元器件在振动冲击试验中的动态监测系统介绍
【机 构】
:
电子部5所
【出 处】
:
中国电子学会可靠性分会第七届学术年会
【发表日期】
:
1994年期
其他文献
电子元器件的小型化使得失效分析越来越困难。为了解决小型化器件的失效分析问题,该文研究了将通常用于LSI〈,s〉的“聚焦离子束(FIB)”技术应用于通用电子元器件和材料失效分析的可行性