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本文综述了近年来针对小时延缺陷的测试的主要研究成果，在深入分析小时延缺陷给时延测试带来的挑战的同时，主要介绍了三类针对小时廷缺陷的时延测试方法：超速测试在测试应用时提高测试时钟频率，已知定时ATPG把时延信息引入测试生成，以及基于测试质量评估的向量筛选。从测试质量的提高和计算复杂度等方面分析了三类方法的优劣，并对纳米工艺下工艺变异带来的挑战进行了探讨。