不同衬底对InGaN多量子阱太阳电池性能的影响

来源 :第十七届全国化合物半导体材料微波器件和光电器件学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tiaozhanwudeshou
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  本文利用脉冲沉积MOCVD方法分别在planar和pss蓝宝石衬底上制备出了lnGaN多量子阱太阳电池,并测试了器件的IV特性。结果表明,pss衬底上制备的电池性能明显优于planar衬底,其转换效率达到了0.64%,开路电压和短路电流分别为2.25V和0.5840 mA/cm2。
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稀磁半导体可以同时利用载流子的自旋和电荷属性,为构造集磁、电于一体的自旋半导体器件奠定基础。本文采用基于密度泛函理论的第一性原理计算了过渡金属掺杂石墨烯超胞系统的总能量及总磁矩,研究了V、Cr、Mn、Fe、Co和Ni掺杂对石墨烯磁性的影响,发现Cr和Mn掺杂石墨烯都呈现亚铁磁性,且Cr掺杂体系具有更低的形成能,而V、Fe、Co和Ni掺杂体系均呈现铁磁性特征。
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利用测得的方形和圆形ln0.18Al0.82N/AlN/GaN异质结场效应晶体管(HFETs)不同面积的肖特基电容-电压特性和低漏源电压下的电流-电压特性,发现由欧姆接触工艺和栅偏压所引起的In0.18Al0.82N/AlN界面极化电荷的不规则分布产生了极化库仑场。同AlGaN/AlN/GaNHFET器件一样,该散射机制对方形和圆形的In0.18Al0.82N/AlN/GaN HFET器件中的二维
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通过对器件在Vds=OV条件下进行阶跃电应力测试,研究AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)在负棚压偏置条件下的退化机制。测试结果显示,当超过某一临界应力电压时,AlGaN/GaN HEMTs特性开始显著退化。该实验结果与逆压电极化效应引起晶格缺陷形成,从而导致器件特性退化的理论相符合。阶跃电应力测试结束后,对退化的器件进行特性表征,并将测试结果与器件施加应力之前的特性进行对比。分析表
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