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随着FPGA的发展,FPGA测试技术也得到了相应的发展.因为FPGA的结构和传统专用集成电路(ASIC)有着本质的区别,在FPGA中不能形成可测性设计(DFT)电路,但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现.本文讨论了用内建自测试(BIST)方法来测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA,只用了10个测试配置能够对FPGA的互连结构达到100%的测试覆盖率.