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本文提出了一种漂移区部分氧化柱体硅LDMOS.此结构将N型漂移区用N型硅柱和氧化柱相互交替来代替,利用氧化柱对漂移区电场的调制作用改善电场分布,从而提高器件击穿电压.三维器件仿真软件Davinci仿真结果表明在漂移区厚度为0.5μm时,该结构较常规体硅LDMOS结构击穿电压提高了24.4%,而且可以使漂移区掺杂浓度提高74.2%,从而降低漂移区电阻.