Al在ZnSe中行为的研究

来源 :第四届全国发光学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liongliong587
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为研究在ZnSe单晶中Al杂质的行为,在700℃~900℃温度范围内,把Al热扩散到ZnSe晶片中,然后用霍尔测试,光致发光光谱及深能级结电容瞬态谱等方法研究了Al杂质。实验结果表明:载流子浓度随扩散温度的升高而增加,但其变化不大,这是由于在热扩散过程中产生的深能级引起的。(本刊录)
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