论文部分内容阅读
考虑到玻璃态转变温度(T<,g>)对材料性能的直接影响,本文运用三维有限元分析法对46.5nm×46.5mm封装器件由热变形引起的翘曲问题进行了分析,同时着重探讨了封装器件中各种材料的尺寸变化对翘曲的影响.计算结果表明:随着芯片厚度的增加,整体翘曲减少,而粘结层的厚度对整体翘曲影响较小.本文结果为封装设计进一步提供了理论依据.